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植物光譜物候測量系統(tǒng)——Crop Circle Phenom 2
日期:2023-02-07 15:23:23

集多種功能于一身

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主要功能

● 美國Holland Scientific公司的Crop Circle Phenom 2植物光譜物候測量系統(tǒng),可用于研究植物冠層輻射穿透及與植物冠層及生長相關的各項環(huán)境指標。

● 系統(tǒng)由ACS-435植物冠層光譜探頭、DAS44X多參數(shù)傳感探頭和GeoSCOUT X數(shù)據(jù)采集器組成。

● ACS435植物冠層光譜探頭,可同時測量670nm, 730nm和780nm三個波長的反射率,可計算得到樣品的NDRE和NDVI植被指數(shù)。ACS-435不受環(huán)境光的限制,通過其獨特的光源測定技術,白天和夜晚均可進行測定。

● DAS44X多參數(shù)傳感探頭將多種不同功能的傳感器集成到一個緊湊的探頭里。包括頂部入射PAR和底部反射PAR,紅外冠層溫度,空氣溫度,空氣相對濕度,探頭到冠層的距離、大氣壓。DAS44X還配有2個24位差分電壓信號擴展通道。

● GeoSCOUT X數(shù)據(jù)采集終端內置有GPS,采集數(shù)據(jù)的同時可對數(shù)據(jù)進行地理信息標記,內置2GB SD內存卡。GeoSCOUT X數(shù)據(jù)采集終端可連接2組Phenom 2探頭,外加2個RS-232串口設備,還可方便設置不同設備的位置修正參數(shù)。

● 系統(tǒng)不僅可裝配到各種車輛或拖拉機上,還可搭載到無人機,對較大尺度的農田、植被等植物冠層參數(shù)進行測量。所測數(shù)據(jù)可用于品種篩選,植物生理特性研究,分析植物或作物的養(yǎng)分、水分、病害及其他生長狀況等。


測量參數(shù)

NDVI植被指數(shù),NDRE植被指數(shù),LAI葉面積指數(shù),冠層葉綠素含量,紅邊反射率,近紅外反射率,紅光反射率,入射PAR,冠層反射PAR,紅外冠層溫度,空氣溫度,空氣相對濕度,傳感器到冠層距離,大氣壓等。


主要特點

● 將功能豐富的傳感器集成到一個系統(tǒng)中。小巧輕便,功能強大。

● 集合了多光譜、空氣溫濕度、PAR等多種傳感器,獲取植物冠層參數(shù)更全面。

● 三個光譜通道可同時測量670nm, 730nm和780nm的反射率信息

● 先進的自主光源反射技術,白天夜晚均可測定

● 可對數(shù)據(jù)進行地理標記


應用領域


● 高通量植物表型研究

● 植物營養(yǎng)及肥料研究

● 除草劑作用及效果研究

● 生物量無損測定

● 植物長勢動態(tài)監(jiān)測

● 早期病害監(jiān)測

● 植物衰老研究

● 草地及作物測繪

● 作物育種

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應用案例


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小麥冠層葉面積指數(shù)和傳感器與冠層距離的回歸分析

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13個冬小麥品系的產量與系統(tǒng)獲取的5種表型參數(shù)的相關性分析

(A小麥產量,B冠層溫度與環(huán)境溫度差,C冠層葉綠素含量,D光合有效輻射吸收系數(shù),E葉面積指數(shù),F(xiàn)冠層高度)

 

產地:美國Holland

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